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强茂推出新一代ESD系列 重新定义高速信号?;け呓?
来源:电子元件技术  浏览次数:43  发布时间:2025-05-15

在5G通信、HDMI 2.1(48Gbps)及USB4(40Gbps)高速接口普及的当下,传统ESD防护器件因 插入损耗高、封装体积大 成为信号完整性的瓶颈。强茂电子推出第二代ESD?;ざ芟盗?,以 0.09pF结电容、-0.25dB@15GHz插入损耗 及 0.6mm×0.3mm微型封装 ,直击消费电子与通信设备的防护痛点,重新定义高速信号?;さ募际醣呓?。


技术突破:三大创新重构行业标准

1. 高频无损传输技术:

● 采用梯度掺杂工艺优化PN结结构,15GHz频段下插入损耗仅-0.25dB,较上一代降低40%;

● 动态阻抗低至0.2Ω(@8kV),响应时间<0.5ns。


2. 微型封装工艺:

● DFN0603-2L封装体积0.6mm3,较传统SOD-323缩小70%,适配可穿戴设备内部紧凑空间;

● 铜柱凸点焊接技术提升散热能力,功率密度达5W/mm2。


3. 多通道集成设计:

● DFN2510A-10L通过3D堆叠实现10路独立防护,支持PCIe 5.0/USB4多协议共存;

● 集成自恢复功能,可承受1000次8kV ESD冲击。

强茂ESD 2.0系列通过 “高频性能+微型化”双引擎 ,解决三大产业难题:

● 信号完整性:HDMI 2.1实现8K@120Hz零画质损失;

● 空间利用率:TWS耳机PCB节省50%防护器件面积;

● BOM成本:Type-C接口防护方案成本降低60%。


技术难题与解决方案

1. 高频损耗与防护效能矛盾:

● 问题:降低结电容会削弱ESD泄放能力;

● 方案:采用多级PN结串联结构,在0.09pF电容下实现8kV防护等级。


2. 微型封装热失效风险:

● 问题:0.6mm封装散热面积不足导致热积累;

● 方案:纳米银胶封装材料将热阻降至10℃/W。


应用场景与市场前景


● 消费电子:智能手机摄像头模组(防护CMOS传感器,失效率<10ppm);

● 通信设备:5G毫米波基站AAU单元(支持28GHz频段,插损<-0.3dB);

● 工业自动化:千兆以太网PHY芯片防护(满足IEC 61000-4-5 Level 4)。